Teza de doctorat a prezentat noi metode statistice pentru a estima și a anticipa cu precizie yield-ul (randamentul producţiei) circuitelor integrate (CI) semiconductoare, împreună cu descoperirea cauzelor factorilor care diminuează yield-ul. Asigurarea unui yield bun pentru CI-urile de astăzi este mai importantă ca niciodată datorită costurilor de producție din ce în ce mai ridicate ale tehnologiilor nanometrice moderne, testarea foarte scumpă cerută de circuitele și sistemele mai complexe și de reglementările din ce în ce mai stricte privind siguranța și robustețea. Mai mult decât atât, variația inerentă a procesului afectează calitatea CI, provocând rebuturi (yield loss). Prin urmare, sunt necesare metode pentru o abordare corectă şi precisă a analizei de yield al CI și descoperirea cauzei care diminuează yield-ul în timp redus.
Această teză a introdus o abordare bazată pe modele de distribuție care abordează noile provocări din etapa de verificare a CI într-un mod unitar. În loc de a lucra cu valori individuale măsurate, distribuțiile parametrilor electrici sunt potrivite pe un set de distribuții bine-cunoscute – o formă mai compactă de reprezentare care permite estimarea probabilităților de eşec și facilitează modelarea yield-ului. Modelarea distribuției a fost extinsă, împreună cu alte abordări statistice, la o metodă de estimare a yield-ului care include și corelațiile dintre parametrii electrici.
Mai mult decât atât, corelația dintre parametrii electrici și parametrii de proces a fost investigată și s-au descoperit soluții de identificare a detractorilor de yield, cu soluția potențială de optimizare a yield-ului la următorii pași de dezvoltare ai produsului CI.
Teza de doctorat conține o cercetare substanțială care a avansat semnificativ starea artei prin inovare. Metodele și ipotezele sunt validate riguros prin aplicarea lor pe rezultatele experimentale reale. Rezultatele obținute au primit o vizibilitate sporită prin publicarea lor în conferințe și reviste bine-cunoscute. Ideile de noutate despre analiza senzitivității sunt, de asemenea, materializate în două cereri de brevet.
La eveniment au participat din partea partenerului proiectului Infineon:
Guenter Krasser – Managing Director IFRO and Head of DC, Infineon Bucharest
Prof. Dr. Georg Pelz – conducator de doctorat si Senior Principal Development Methodology Automotive Products, Infineon Munchen
Dr. Ing. Traian Visan – Head of Power Technologies Platforms Bucharest, Infineon Bucharest
Dr. Ing. Emilian David – Infineon Bucharest
